DAP測(cè)試儀（DAPCKP+）
產(chǎn)品概述：
DAPCKP+是最新的用于現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)的參考級(jí)DAP測(cè)試儀，提供可溯源的測(cè)量結(jié)果，確保測(cè)量值的有效性。DAPCKP+采用高速數(shù)字化測(cè)量技術(shù)，可快速測(cè)量和顯示DAP和DAP Rate；堅(jiān)固的ABS塑料外殼保護(hù)電離室和電子元件，運(yùn)用多項(xiàng)專利技術(shù)確保長(zhǎng)期穩(wěn)定性,同時(shí)可用于光野和射野一致性測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
1.DAP Rate：1μGy.m²/min——0.92Gy.m²/min;
2.DAP測(cè)量精度：±7.5%（10mGy/min，15*15cm，80KV，2.5mm鋁濾過(guò)）；
3.管電壓范圍：40——150KV；
4.自動(dòng)溫度壓力補(bǔ)償：80—106Kpa，15—35℃；
5.有效探測(cè)面積：最大300*300mm；
6.光野射野刻度：1mm分辨率。
2.DAP測(cè)量精度：±7.5%（10mGy/min，15*15cm，80KV，2.5mm鋁濾過(guò)）；
3.管電壓范圍：40——150KV；
4.自動(dòng)溫度壓力補(bǔ)償：80—106Kpa，15—35℃；
5.有效探測(cè)面積：最大300*300mm；
6.光野射野刻度：1mm分辨率。
0755-26435055
